DI-1nS系列二极管反向恢复时间测试仪,是本公司第四代产品。第四代的FPGA芯片、阈值比较器等核心芯片采用恒温控制,使得测试精度和测试稳定性大大提高。同时无需连接示波器,可代替示波器的高速信号采集功能。本系列测试仪采用触摸液晶屏,可进行器件筛选的*大恢复时间设置、*小恢复时间设置、上升下降触发设置,同时显示二极管的恢复时间,PASS指示灯直接提示测试的二极管是否合格。该系列测试仪广泛应用于二极管测试系统、工业生产系统以及电子应用实验室等领域。
DI-1nS-FRD为快恢复二极管反向恢复时间测试仪,擅长测试反向恢复时间小于1000nS的快恢复二极管和肖特基二极管,精度0.1nS。DI-1nS-FRD除了可以进行传统的连续恒流脉冲测试外,还可以脉冲恒流测试,具有二极管PN结不升温,测试数值稳定不变的特性。
l 测量快恢复二极管和肖特基二极管
l 7寸工业语音组态触摸液晶屏
l 完全由微处理器控制
l 正向电流值0~1000mA
l 反向恢复电流0~2000mA
l 测量精度0.1nS
l 可设定下降、上升沿比较预值
l 具有连续恒流脉冲测试和脉冲恒流测试双功能
l 无需配合示波器使用(示波器可用于测定定标)
l 核心芯片采用恒温控制
l 机箱尺寸HWS:185*325*275CM
l 配备器件测试盒
★ 应用范围
u 快恢复二极管和肖特基二极管的器件测试
u 快恢复二极管和肖特基二极管的器件筛选
★触摸液晶显示屏
★ 规格参数
规格参数 DI-1nS-HV DI-1nS-FRD DI-1nS
产品名称 高压二极管反向恢复时间测试仪 快恢复二极管反向恢复时间测试仪 高速二极管反向恢复时间测试仪
产品特性 无需示波器 无需示波器 无需示波器
正向电流Forward current 0~50mA 0~1000mA 10mA
反向恢复电流Reverse current 0~100mA 0~2000mA ≤60mA
二极管正向压降Froward Voltage Range 0~40V 0~1V 0~1V
反向电压Reverse Voltage 0~15V 0~30V 0~7V
恢复时间测试范围Recovery time Range 0~999.9nS 0~999.9nS 0~350nS
测试精度Measure accuracy 0.1nS 0.1nS 0.1nS
测试频率Trigger Input Pulse 16.9Hz 16.9Hz 16.9Hz
测试脉冲信号沿速度Speed of falling pulse <2nS <1nS <500pS
If工作模式If mode 连续模式&脉冲模式 连续模式&脉冲模式 连续模式&脉冲模式
电源输入Power Input 220VAC 220VAC 220VAC
功率Power <50W <50W <50W
长春艾克思科技有限责任公司
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